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| getSpec NIR 0117/0121 MEMS | |
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Kompaktes und konfigurierbares Infrarot Spektrometer auf Basis neuester MEMS-Technologie für den Einsatz in der Online Prozessüberwachung
 Informationsanforderung
Anwendungen
Polymerindustrie
- Identifizierung von Kunststoff während des Recyclingprozesses
- Prozesskontrolle während Polymerisation
- Schichtdickenmessungen
Organische Chemie
- Determinierung des stationären Endpunktes verschiedener Reaktionen (Veresterung)
- Identifizierung und Klassifizierung von Rohstoffen
Lebensmittelindustrie
- Messung des Feuchtigkeitsgehaltes nach Evaporation oder Trocknung
- Bestimmung des Fett- und Wassergehaltes in Milch, Butter, etc.
- Determinierung von Alkohol in Bier, Wein und anderen Spirituosen
- Identifizierung gesättigter Fettsäuren
Im Unterschied zu herkömmlichen Spektrometern arbeitet das getSpec NIR 0117/0121 MEMS nicht mit einer Detektorzeile, sondern mit Einzeldetektoren. Dieses wird durch die Verwendung von Mikro-Elektro-Mechanischen-Systemen (MEMS) realisiert. Das Spektrometer arbeitet nach dem Prinzip dispersiver Gitterspektrometer. Die Hauptkomponente ist dabei ein Mikrospiegel, welcher die durch das Beugungsgitter zerlegten Spektralanteile periodisch auf Einzeldetektoren lenkt.
Mittels integrierter Logikkomponenten erfolgt eine Vorverarbeitung der Spektraldaten. Diese werden über eine USB- oder eine RS-485 Schnittstelle zu einem Rechner transferiert. Eine Anwendersoftware ermöglicht die Darstellung und Weiterverarbeitung der Daten. Spezifische Anforderungen (OEM) können durch Anpassung der Firmware berücksichtigt werden.
Vorteile
- kompakt, transportabel und kostengünstig
- freie Konfigurierbarkeit (Wellenlänge, spektrale Auflösung)
- schnelle Messzyklen (2ms primäre Messzeit) ermöglichen Echtzeitmessungen
- hohe Genauigkeit
- flexibler Einsatz (Ankopplung von Lichtwellenleitern)
- Universalität der Anwendungen durch Einsatz verschiedener Messgeometrien
Software
Die Betriebssoftware dient der Steuerung des Spektrometermoduls sowie der Visualisierung der detektierten Spektren. Neben der Darstellung des Spektrums über der Wellenlänge oder der Wellenzahl sind einfache spektrale Operationen wie Offsetkorrektur oder der Bezug auf ein Referenzspektrum möglich. Die gemessenen Spektren können als ASCII-File wahlweise separat oder in einer gemeinsamen Matrix abgespeichert werden (weitere Exports bzw. Anbindung an andere Systeme sind auf Anfrage möglich). Parametriert wird die Software durch ein modulspezifisches INI-File.
Betriebssystem: Windows 2000, XP, Vista, Linux (geplant)
Technisch Spezifikation
| Parameter | getSpec NIR 0117 MEMS | getSpec NIR 0121 MEMS |
| Wellenlängenbereich | 660nm bis 1730nm | 910 bis 2100 nm |
| Detektoren | Si- und InGaAs-Detektoren | zwei InGaAs-Detektoren |
| Dispersion | 15nm/mm | 21nm/mm |
| Spektrale Auflösung | 9nm (300µm Spalt) | 12nm (300µm Spalt) |
| Spaltbreite (weitere Verfügbare) | 300µm (350µm, 250µm, 200µm, 150µm) |
| Messzeit (@ Einzel-messung) | 4ms |
| SNR (@ Einzelmessung) | 7000:1 | 1000:1 |
| Wellenlängengenauigkeit | <0,5nm (50 Einzelmessungen) |
| Wellenlängenreproduzierbarkeit | ± 0,05nm (50 Einzelmessungen) |
| Streulicht | <0,1% T (Interferenzfilter @1450nm) |
| Temperaturgang | 0,01nm/K |
| Temperaturbereich | 5 – 50 °C |
| Lichtleiteranschluss | SMA905 |
| Schnittstellen | USB / RS485 |
| Abmaße | 107x66x80 |
| Gewicht | 750g |
Betriebsspannung /
Leistungsaufnahme | 24V / 1W |
| Software | kompatibel mit Windows 2000, XP |
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Letzte Änderung 07/02/2008 03:01 PM
Copyright (c) getAMO 2008
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